title" style="white-space:normal;font-size:25px;margin:0px 0px 12px;border:0px;padding:0px;color:#EEEEEE;line-height:36px;word-break:break-all;font-family:"PingFang SC", Arial, 微软雅黑, 宋体, simsun, sans-serif;"> IEC 62368-1附录V可触及零部件测试试具

EC62368-1:2020音频、视频、信息和通信技术设备可触及零部件

Figure V.1儿童可触及设备铰接式试验试具

Figure V.1直式非铰接试指

Figure V.2 儿童不可触及设备铰接试验指

Figure V.2 直式无关节试指

Figure V.3 钝头试具

Figure V.4 楔形试具

Figure V.5 端子试具

通过使用适用的图V.1或图V.2直的无关节的试验试具来进行试验，施加30N±3N的力，短时间保持大约5S

用直的非铰接式试具试验开孔

V.1.3试验方法2 用直的非铰接式试具试验开孔

对能阻止图V.1或图V.2的适用的铰接式试具接触零部件的开孔要再用直的非铰接式的相关试验试具，施加30N的力来进行试验。如果非铰接式试具进入开孔，则要重复进行试验方法1的试验，但要使用任何所需要的不大于30N的力，将相关的铰接式试验试具推入开孔。